TOF-SIMS: une révolution dans l’analyse chimique des surfaces

TOF-SIMS: une révolution dans l’analyse chimique des surfaces

20.06.2017 14:00 – 16:00

Le Laboratoire de Technologie Avancée veut élargir son champ d’analyse chimique des surfaces grâce à l’acquisition de nouveaux équipements dont pourront bénéficier les entreprises et les chercheurs : un système TOF-SIMS et un XPS.

La récente percée technologique dans le système TOF-SIMS permet une détection chimique ultime avec une résolution spatiale d’une centaine de nanomètres sur tout type d’échantillon. Complétée par le XPS, elle devient un véritable atout pour la recherche et le développement de la région.

Le LTA vous invite à découvrir cette avancée technologique.

Inscriptions nécessaires: https://www.lta-geneve.ch/tof-sims/

Lieu

Bâtiment: Ecole de Physique

Grand auditoire

Organisé par

Faculté des sciences

Intervenants

Christoph Renner, Professeur, UNIGE, LTA
Gregory L. Fisher, Physical Electronics, USA

entrée libre

Classement

Catégorie: Séminaire

Mots clés: Innovation, Technologie, relations université-industrie, analyse

Plus d'infos

www.lta-geneve.ch/tof-sims/

Contact: missing email

Fichiers joints

LTA_invitation_TOF_SIMS.pdf317.7 Kb