TOF-SIMS: une révolution dans l’analyse chimique des surfaces
20.06.2017 14:00 – 16:00
Le Laboratoire de Technologie Avancée veut élargir son champ d’analyse chimique des surfaces grâce à l’acquisition de nouveaux équipements dont pourront bénéficier les entreprises et les chercheurs : un système TOF-SIMS et un XPS.
La récente percée technologique dans le système TOF-SIMS permet une détection chimique ultime avec une résolution spatiale d’une centaine de nanomètres sur tout type d’échantillon. Complétée par le XPS, elle devient un véritable atout pour la recherche et le développement de la région.
Le LTA vous invite à découvrir cette avancée technologique.
Inscriptions nécessaires: https://www.lta-geneve.ch/tof-sims/
Lieu
Bâtiment: Ecole de Physique
Grand auditoire
Organisé par
Faculté des sciencesIntervenant-e-s
Christoph Renner, Professeur, UNIGE, LTAGregory L. Fisher, Physical Electronics, USA
entrée libre
Classement
Catégorie: Séminaire
Mots clés: Innovation, Technologie, relations université-industrie, analyse
Fichiers joints
LTA_invitation_TOF_SIMS.pdf | 317.7 Kb |